为什么要反过来用四探针法测电阻率？n/n可以用四探针法测量吗？答:异形外延片可以用四探针法测量。答:不能用四探针法测量同类型的外延片，四探针法测量金属薄膜电阻率可能产生的误差来源是通过测量恒流源在样品不同位置产生的电位差来获得材料的电阻率，为了获得准确的测试结果，2，四探针法可以用来测量N/P外延片外延层的电阻率吗？此外，探针和样品边界之间的距离远大于探针之间的距离。你做的样品几何尺寸是多少。
1、表面电阻测试仪的原理
物体表面电阻:大于10的12次方欧姆的电阻是绝缘体。大于10的第六次方欧姆和小于10的第十一次方欧姆为抗静电体。大于10的第三欧姆和小于10的第五欧姆是电导体。测试仪器:三合一功能的表面电阻测试仪是最理想的仪器。无锡王驹塑胶材料有限公司销售的三合一表面电阻测试仪，不仅可以测量产品的表面电阻，还可以测量产品的电导率，以及产品是否绝缘。
2、能否用四探针法测量n/n 外延片及p/p 外延片外延层的电阻率?
1。四探针法可以测量N/N外延片和P/P外延片的外延层电阻率吗？答:不能用四探针法测量同类型的外延片。2.N/P外延片外延层电阻率可以用四探针法测量吗？答:四探针法可以用来测量异形外延片。3.为什么测量单晶样品电阻率时要求测试平面粗糙，而测量扩散片扩散层的薄层电阻时测试平面可以是镜面？答:粗糙表面可以保证金属探针与样品接触良好，所以在测量单晶样品电阻率时要求测试平面为粗糙表面。
3、为什么在用四探针检测Al掺杂的ZnO薄膜样品的电阻时会出现电流不断衰减的…
你拍的每部片子的厚度是多少？一楼的样品不能都测吗？对于厚度远小于探针间距一半的薄膜样品，4.532μA的初始电流是一个校正值。如果超过这个限度，这个修正值就没有意义了。此外，探针和样品边界之间的距离远大于探针之间的距离。你做的样品几何尺寸是多少？你应该怎么做:可以找一张标准片来校正4.532 μ A的初始电流，如果这个电流一直达不到，说明检测设备有问题。请先修理机器，然后确定你做的样品的几何尺寸是否合适。
/Image-4/kdy 1四探针电阻率/方阻测试仪使用说明广州昆德科技有限公司1。概述KDY1四探针电阻率/方块电阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是一种测量仪器，用于测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶和硅片)的电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电膜和导电橡胶方块的电阻。它主要由一个电测部分(简称主机)、一个测试台和四个探头组成。该仪器的特点是主机配有双数字表。在测量电阻率的同时，另一个数字表(精度为万分之几)全程及时监测电流变化，消除了测量电流与测量电阻率之间的转换，及时控制测量电流。
4、用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源
四探针法是通过测量恒流源在样品不同位置产生的电位差来获得材料的电阻率。为了获得准确的测试结果，有必要使四个探针与样品表面保持良好和稳定的弹性接触，它要求探头尖锐并保持适当的接触压力，这往往会对材料表面造成损伤，使测量值易受外界干扰，这在测量薄带或薄膜样品时更为明显。此外，尽管测量电流非常小。