用数字万用表只能检测电源类的集成芯片和功能较简单的门电路，前者如稳压器、基准电源等，后者如非门、与门、或门、与非门、或非门、还有一些触发器。最基本的逻辑关系是与、或、非，最基本的逻辑门是与门、或门和非门，如何用万用表测量数字集成电路的好坏指针万用表和数字万用表怎么测量电容的好坏。
1、芯片CD4011的检查能不能用的方法是什么啊?请教高手
只有在线通电检查，这种集成块用万能表测量也两不出个什么名堂，且COMS的集成块，测量不当还容易损坏。CD4011换新的灯也不亮，声音时2脚最高有1.5伏的电压，用手碰触也不行，但碰1一脚时灯亮。与非门电路，换块新的又不很贵。利用THD1引脚1、2分别接上逻辑开关，引脚3接发光二极管，分别给四组高低电平，看输出电平的高低。
2、写出检验74LS153芯片是否损坏的具体步骤?
74ls138引脚图74HC138管脚图：74LS138为3线8线译码器，共有54/74S138和54/74LS138两种线路结构型式，其工作原理如下：当一个选通端（G1）为高电平，另两个选通端（/（G2A）和/（G2B））为低电平时，可将地址端（A、B、C）的二进制编码在一个对应的输出端以低电平译出。利用G1、/（G2A）和/（G2B）可级联扩展成24线译码器；
3、还可以采用哪些方法测量与非门电路传输延时?
最基本的逻辑关系是与、或、非，最基本的逻辑门是与门、或门和非门。实现“与”运算的叫与门，实现“或”运算的叫或门，实现“非”运算的叫非门，也叫做反相器，等等。逻辑门是在集成电路（也称：集成电路）上的基本组件逻辑门可以用电阻、电容、二极管、三极管等分立原件构成，成为分立元件门。也可以将门电路的所有器件及连接导线制作在同一块半导体基片上，构成集成逻辑门电路。
这些晶体管的组合可以使代表两种信号的高低电平在通过它们之后产生高电平或者低电平的信号高、低电平可以分别代表逻辑上的“真”与“假”或二进制当中的1和0，从而实现逻辑运算。常见的逻辑门包括“与”门，“或”门，“非”门，“异或”门（也称：互斥或）等等。逻辑门可以组合使用实现更为复杂的逻辑运算逻辑门电路是数字电路中最基本的逻辑元件。
4、如何用数字万用表检测集成芯片
主要是测量电源脚和地脚电阻就行！或者各个脚到地的电阻！我建议还不如直接通电，然后摸摸是否发烫。用数字万用表只能检测电源类的集成芯片和功能较简单的门电路，前者如稳压器、基准电源等，后者如非门、与门、或门、与非门、或非门、还有一些触发器。单片机、A/D转换器、计数器、运放之类的集成电路则难以检测。
5、如何验证集成与非门74LS00的逻辑功能
集成电路74LS00是四2输入的与非门，即有四个2输入端的与非门，与非门的功能，是输入端A，B，全为1时，输出才为0，A，B只要有一个端输入0，输出就是1。根据这个逻辑关系就很容易测出74LS00的逻辑功能。如下图，输出端接一个LED，输出为0时，LED亮，否则，是灭的。测量时，输入端不接线就是为1，接一导线到地，就是0。
6、如何用万用表测量数字集成电路的好坏
指针万用表和数字万用表怎么测量电容的好坏？教你最简单的方法，又简单又实用。万用表无法测量数字集成电路的好坏。集成电路是微点元件。且结构及其复杂。一个指甲盖大小的硅片上甚至可以有几百万个晶体管。每个晶体管上的电压电流可达到pA,pU级别。所以，即使是再精确的万用表，也不可能精确测量万用表内部的好坏。集成电路则是将晶体管、电阻、电容等元件和导线通过半导体制造工艺做在一块硅片上而成为一个不可分割的整体电路。
一、检测原理和一般方法1.检测非在路集成电路本身好坏的准确方法非在路集成电路是指与实际电路完全脱开的集成电路。按照厂家给定的测试电路、测试条件，逐项进行测试，在大多数情况下既不现实，也往往是不必要的，在家电修理或一般性电子制作过程中，较为常用而且准确的方法是焊接在实际电路上试一试。